Renesas desenvolve MCU de 28 nm com funções assistidas por virtualização

A Renesas Electronics anunciou o desenvolvimento e a verificação de operação bem-sucedida de um chip de teste automotivo como um trampolim tecnológico para a realização de MCUs flash de controle automotivo de próxima geração empregando um processo de baixa potência de 28 nm.

O microcontrolador possui quatro CPUs de 600 MHz com um mecanismo de bloqueio e uma grande capacidade de memória flash de 16 MB, bem como funções assistidas por virtualização que permitem a virtualização de MCU:Esta tecnologia permite que vários componentes de software sejam executados em um único MCU sem interferir uns com os outros, satisfazendo assim os requisitos do ASIL D, o mais alto nível de integridade de segurança automotiva especificado pela norma ISO 26262 de segurança funcional para veículos rodoviários. A funcionalidade aprimorada de autoteste integrado (BIST) para detecção de falhas de autodiagnóstico de MCU é necessária para implementar ASIL D, graças a uma função BIST (SR-BIST) de retomada de espera recentemente desenvolvida que é executada durante o período de retomada de espera . O MCU também apresenta funcionalidade de rede aprimorada, incluindo interface Gigabit Ethernet para transferência em alta velocidade de informações do sensor.

A Renesas apresentará os resultados do teste na sessão “Um microcontrolador flash automotivo de 28nm 600 MHz com processador assistido por virtualização para arquitetura automotiva de última geração em conformidade com ISO26262 ASIL D”, em 18 de fevereiro na Conferência Internacional de Circuitos de Estado Sólido 2019.

Com base nas tecnologias verificadas no chip de teste, a Renesas planeja desenvolver agressivamente novos MCUs flash de 28 nm e continuar seu compromisso em habilitar uma nova geração de carros de direção ecologicamente corretos e autônomos e ajudar a realizar uma experiência de direção mais segura e protegida.