Renesas Lança MCU Automotive 28nm com Virtualization-Assisted Safety Features

A Renesas Electronics anunciou a verificação bem-sucedida de um cutting-edge automotive test chip, pavimentando o caminho para microcontroladores flash de próxima geração construídos num processo low-power de 28 nm.

Quatro Cores 600 MHz Lock-Step e 16 MB Flash

O microcontrolador protótipo possui quatro cores 600 MHz numa configuração lock-step, generosos 16 MB flash memory e uma suite de funções virtualization-assisted que permitem múltiplos componentes de software coexistirem num único chip sem interferência. Esta capacidade cumpre os requisitos rigorosos da ISO 26262 ASIL D, o nível mais alto de integridade de segurança automotiva.

BIST Avançado com Standby-Resume para ASIL D

Para suportar conformidade ASIL D, o chip incorpora um advanced built-in self-test (BIST) system, incluindo standby-resume BIST (SR-BIST) que opera durante ciclos de power-down para detetar falhas. Funcionalidades de networking aprimoradas, como interface Gigabit Ethernet, fornecem transferência de dados high-speed para payloads de sensores.

Apresentação no ISSCC 2019

A Renesas apresentará os resultados do teste na sessão "A 28 nm 600 MHz Automotive Flash Microcontroller with Virtualization-Assisted Processor for Next-Generation Automotive Architecture Complying with ISO 26262 ASIL D" na International Solid-State Circuits Conference a 18 de fevereiro de 2019.

Compromisso com Veículos Eco-Friendly e Autónomos

Baseando-se nesta tecnologia validada, a Renesas planeia acelerar o desenvolvimento de novos MCUs flash 28 nm, reforçando o seu compromisso com veículos eco-friendly, autónomos e uma experiência de condução mais segura e segura.