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Otimizando Medição de N Portas: VNAs Multiporta vs. Matrizes de Chaves

Muitos engenheiros confiam em matrizes de chaves externas para estender VNAs de 2 portas para medições multi-canal — mas esta abordagem vem com trade-offs em velocidade, precisão e complexidade do sistema. Entender quando estes trade-offs importam é crítico à medida que sistemas RF e digitais de alta velocidade continuam a escalar.

Webinar de 60 Minutos

Este webinar de 60 minutos fornece uma comparação clara e prática entre arquiteturas de medição VNA de 2 portas comutadas e verdadeiramente multiporta. Participantes aprenderão como contagem de varredura, perda de inserção, isolamento e complexidade de calibração diferem entre abordagens e como estas diferenças afetam resultados do mundo real. Ao examinar casos de uso representativos — incluindo conjuntos de cabos, arrays de formação de feixe e teste de produção de dispositivos multi-canal — a sessão ajudará engenheiros e equipes de teste a selecionar a estratégia mais apropriada para seus objetivos de medição.

Tópicos Principais

Uma sessão de perguntas e respostas com a audiência seguirá a apresentação técnica.

Palestrante

Brian Walker, Engenheiro Sênior de RF, Copper Mountain Technologies

Brian Walker é o Engenheiro Sênior de RF, SME, na Copper Mountain Technologies. Ele ajuda clientes a resolver problemas técnicos e desenvolve novas soluções para aplicações de VNA em teste e medição. Brian tem 40 anos de experiência em Design de RF. Anteriormente foi Gerente de Design de RF na Bird Electronics, onde dirigiu uma equipe de designers de RF e criou produtos novos e inovadores. Antes disso, trabalhou no Grupo de Produtos de Componentes da Motorola e foi responsável pelo design de filtros comb-line cerâmicos para dispositivos de comunicação. Brian possui diploma da Universidade do Novo México e é membro sênior da IEEE, tendo escrito três patentes dos EUA.

Moderadora

Amanda Hosey, Editora, SAE Media Group

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