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Otimizando a medição de N portas:VNAs multiportas versus matrizes de switch


Muitos engenheiros contam com matrizes de switch externas para estender VNAs de 2 portas para medições multicanais — mas essa abordagem traz vantagens em termos de velocidade, precisão e complexidade do sistema. Compreender quando essas compensações são importantes é fundamental à medida que os sistemas digitais de RF e de alta velocidade continuam a crescer.

Este webinar de 60 minutos fornece uma comparação clara e prática entre arquiteturas de medição VNA comutadas de 2 portas e verdadeiras multiportas. Os participantes aprenderão como a contagem de varredura, a perda de inserção, o isolamento e a complexidade da calibração diferem entre as abordagens e como essas diferenças afetam os resultados do mundo real. Ao examinar casos de uso representativos — incluindo montagens de cabos, matrizes de formação de feixes e testes de produção de dispositivos multicanais — a sessão ajudará engenheiros e equipes de teste a selecionar a estratégia mais apropriada para seus objetivos de medição.

Os principais tópicos incluem:

Uma sessão de perguntas e respostas do público seguirá a apresentação técnica.


Palestrantes:

Brian Walker, engenheiro sênior de RF, Copper Mountain Technologies



Brian Walker é engenheiro sênior de RF, SME, da Copper Mountain Technologies. Ele ajuda os clientes a resolver problemas técnicos e desenvolve novas soluções para aplicações VNA em testes e medições. Brian tem 40 anos de experiência em Design de RF. Anteriormente, ele foi gerente de design de RF na Bird Electronics, onde dirigiu uma equipe de designers de RF e criou produtos novos e inovadores. Antes disso, ele trabalhou para o Grupo de Produtos de Componentes da Motorola e foi responsável pelo projeto de filtros cerâmicos de linha penteada para dispositivos de comunicação. Brian é formado pela Universidade do Novo México e é membro sênior do IEEE, sendo autor de três patentes nos EUA.

Moderador:

Amanda Hosey, editora, SAE Media Group



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