Fotodetectores Schottky de Ultravioleta Profundo Híbridos PEDOT:PSS/β-Ga₂O₃: Análise de Desempenho Dependente de Temperatura
Resumo
Neste artigo, diodos Schottky híbridos β-Ga₂O₃ foram fabricados com PEDOT:PSS como ânodo. As características elétricas foram investigadas quando a temperatura muda de 298 K a 423 K. A altura de barreira ϕb aumenta e o fator de idealidade n diminui à medida que a temperatura aumenta, indicando a presença de inhomogeneidade de altura de barreira entre a interface polímero e β-Ga₂O₃. A altura de barreira média e o desvio padrão são 1,57 eV e 0,212 eV, respectivamente, após considerar o modelo de distribuição Gaussiana de altura de barreira. Além disso, velocidade de resposta relativamente rápida de menos de 320 ms, alta responsividade de 0,6 A/W e razão de rejeição de R254 nm/R400 nm até 1,26 × 10³ são obtidos, sugerindo que os diodos de barreira Schottky híbridos PEDOT:PSS/β-Ga₂O₃ podem ser usados como chaves ópticas ou fotodetectores de ultravioleta profundo (DUV).
Introdução
Muitos grupos de pesquisa dedicaram muita atenção a um novo semicondutor de banda proibida ultra-larga β-Ga₂O₃ como material potencial para fotodetectores de ultravioleta profundo (DUV) [1,2,3,4,5,6,7], dispositivos de alta tensão e alta potência por sua banda proibida larga (4,8–4,9 eV), alto campo de ruptura elétrica (8 MV/cm) e estabilidade química [8,9,10,11]. Além disso, é simples clivar β-Ga₂O₃ em nanomembranas ou fitas finas [12, 13] por sua propriedade única de grande constante de rede ao longo da direção [100]. Vários metais, como Cu [14], Pd [15], Pt [11, 16,17,18,19], Au [15, 20], Ni [16, 21,22,23] e TiN [18], foram usados para investigar as características elétricas de diodos de barreira Schottky (SBD) de β-Ga₂O₃. No entanto, os diodos Schottky fabricados com algum polímero e as características elétricas não foram relatados ainda. Entre todos os materiais orgânicos, PEDOT:PSS é um dos polímeros condutores de lacunas transparentes, cuja condutividade é de até 500 S/cm e função de trabalho é de até 5,0 ~ 5,3 eV, próxima a Au e Ni [23,24,25]. Além disso, o filme PEDOT:PSS pode ser formado apenas por spin-coating no substrato e subsequente assamento em ar. Existem algumas investigações a respeito do contato Schottky transparente de PEDOT:PSS em substrato monocristalino ZnO e epicamada GaN, exibindo boas propriedades retificadoras e características fotoelétricas ou fotovoltaicas [26,27,28,29].
Neste trabalho, o diodo Schottky híbrido foi fabricado com polímero PEDOT:PSS e flocos β-Ga₂O₃ exfoliados mecanicamente do substrato β-Ga₂O₃ de alta qualidade. As características elétricas dos diodos foram investigadas na região de temperatura entre 298 K e 423 K. Além disso, medições I–V sob iluminação UV foram realizadas, a responsividade foi medida e o comportamento transitório da fotocorrente também foi analisado.
Métodos Experimentais
Flocos β-Ga₂O₃ com espessuras de 15–25 μm foram exfoliados mecanicamente do substrato β-Ga₂O₃ (100) com concentração de elétrons de 7 × 10¹⁶ cm⁻³. Como a densidade de elétrons é 2–3 ordens de magnitude maior que a na epicamada Ga₂O₃ não intencionalmente dopada depositada em substrato safira em [30] e o filme PEDOT:PSS altamente condutivo foi usado neste artigo, a junção pn heterojunção foi formada em [30] enquanto junção Schottky foi formada neste artigo [30]. A Figura 1a mostra o diagrama esquemático do diodo Schottky híbrido PEDOT:PSS/β-Ga₂O₃. Os flocos β-Ga₂O₃ foram limpos em acetona, etanol e água desionizada com agitação ultrassônica e então imersos na solução HF:H₂O (1:10) para remover óxidos de superfície. Então, a deposição de pilha metálica Ti/Au (20 nm/100 nm) foi realizada em todo o lado posterior, e o processamento térmico rápido a 470 °C sob atmosfera N₂ foi conduzido por 60 s para diminuir a resistência de contato ôhmico. Após spin-coated na superfície do floco β-Ga₂O₃ por três vezes, PEDOT:PSS foi assado em chapa quente elétrica a 150 °C e a duração do assamento foi 15 min. Subsequentemente, dispositivos isolados com área de 1 mm × 2 mm foram obtidos. Da imagem HRTEM da Fig. 1b, podemos observar que os átomos estão regularmente arranjados e poucos desalinhamentos de colunas atômicas estão presentes, indicando alta qualidade cristalina do floco β-Ga₂O₃. Como mostrado na Fig. 1c, d, o FWHM de HRXRD é cerca de 35,3 arcsec e o desvio quadrático médio (RMS) é estimado como 0,19 nm, ilustrando a qualidade cristalina superior e superfície lisa.
Diagrama esquemático do diodo Schottky híbrido PEDOT:PSS/β-Ga₂O₃ (a), imagem HRTEM (b), curva de balanço HRXRD do plano (400) (c), imagem AFM de floco β-Ga₂O₃ obtido de substrato β-Ga₂O₃ por exfoliação mecânica, mostrando alta qualidade cristalina e superfície lisa (d)
Resultado e Discussão
Características I–V e Altura de Barreira
Como apresentado na Fig. 2a, as características I–V dos diodos de barreira Schottky híbridos PEDOT:PSS/β-Ga₂O₃ foram investigadas quando a temperatura muda de 298 K a 423 K. A corrente aumenta monotonamente com a temperatura e as curvas I–V semi-log mostram comportamento linear enquanto o viés de tensão forward menor que 1,5 V. À medida que o viés de tensão forward further aumenta, a inclinação das curvas I–V semi-log reduz gradualmente e a corrente forward aproxima-se de 6 ~ 8 × 10⁻⁴ A, indicando que a resistência série causa o desvio da curva I–V da linearidade. Além disso, a corrente de fuga reversa é menor que 10⁻⁹ A a –3 V e a razão Ion/Ioff é de até 10⁶ a temperatura ambiente, ilustrando comportamento retificador tão bom quanto diodos Schottky inorgânicos β-Ga₂O₃ [11,12,13,14,15].
Características I–V dependentes de temperatura de SBDs PEDOT:PSS/β-Ga₂O₃ de 298 a 423 K (a) e altura de barreira Schottky ϕb e fator de idealidade n de SBD híbrido β-Ga₂O₃ (b)
De acordo com a equação \( I={I}_s\left\{\exp \left[\frac{q\left(V-{IR}_s\right)}{nkT}\right]-1\right\} \) onde V é a tensão de viés, T e k são a temperatura absoluta e a constante de Boltzmann, respectivamente. O fator de idealidade n e a corrente de saturação reversa Is podem ser extraídos dos interceptos do eixo y e das inclinações da extrapolação linear das curvas I–V semi-log em diferentes temperaturas. Embora o fator de idealidade n do diodo Schottky ideal seja igual a 1, é sempre maior que 1 em algum grau em dispositivo real. O desvio do modelo de emissão térmica (TE) torna-se muito maior à medida que n aumenta. De acordo com a expressão \( {\phi}_b=\frac{kT}{q}\ln \left[\frac{AA^{\ast }{T}^2}{I_s}\right] \), podemos obter a altura de barreira Schottky ϕb em diferentes temperaturas, como mostrado na Fig. 2b. O aumento da temperatura causa ϕb a aumentar de 0,71 eV para 0,84, 0,87, 0,90, 0,93 e 0,96 eV enquanto n diminui de 4,27 para 3,42, 3,35, 3,29, 3,06 e 2,86. Para n muito maior que 1, sugerindo outros mecanismos de condução, como efeito de campo ou efeito termo-campo, contribuindo para o transporte de corrente e resultando na diferença entre modelo TE puro e as características I–V, que foi ilustrado em SBDs de banda proibida larga, incluindo GaN e SiC [31,32,33,34].
Para ϕb e n serem dependentes de temperatura, a inhomogeneidade de altura de barreira deve ser considerada na interface PEDOT:PSS e β-Ga₂O₃. Considerando a distribuição Gaussiana da altura de barreira, a altura de barreira inhomogênea pode ser descrita como \( {\phi}_b=\overline{\phi_{b0}}\left(T=0\right)-\frac{q{\sigma}_s^2}{2 kT} \) e a variação de n com T é dada por \( \left(\frac{1}{n}-1\right)={\rho}_2-\frac{q{\rho}_3}{2 kT} \), onde \( \overline{\phi_{b0}} \) e σs são a altura de barreira média e o desvio padrão, respectivamente, ρ2 e ρ3 são coeficientes de tensão dependentes de temperatura e a deformação de tensão da distribuição de altura de barreira Schottky (SBH) foi quantificada por eles (Fig. 3a). \( \overline{\phi_{b0}} \) e σs podem ser calculados do intercepto e da inclinação da curva ϕb versus q/2kT, cerca de 1,57 eV e 0,212 eV, respectivamente. Ao mesmo tempo, ρ2 e ρ3 são avaliados como 0,4 eV e 0,02 eV do intercepto e inclinação do gráfico (1/n − 1) versus q/2kT. Comparado com \( \overline{\phi_{b0}} \), σs não é pequeno, ilustrando a existência de inhomogeneidade de barreira na interface PEDOT:PSS/β-Ga₂O₃ [35].
Variação da SBH ϕb e (n⁻¹ − 1) com curvas q/2KT, \( \overline{\phi_{b0}} \) e σs podem ser obtidos (a), gráfico modificado \( \ln \left({I}_{\mathrm{s}}/{T}^2\right)-\left({q}^2{\sigma}_{\mathrm{s}}^2/2{k}^2{T}^2\right) \) versus 1000/T (b)
Considerando a inhomogeneidade de altura de barreira, a relação entre a corrente de saturação reversa Is e a altura de barreira média \( \overline{\phi_{b0}} \) pode ser modificada como \( \mathrm{In}\left(\frac{I_s}{T^2}\right)-\left(\frac{q^2{\sigma_s}^2}{2{k}^2{T}^2}\right)=\mathrm{In}\left({AA}^{\ast}\right)-\frac{q\overline{\phi_{b0}}}{kT} \). Pode-se discernir da Fig. 3b que o gráfico de \( \ln \left({I}_{\mathrm{s}}/{T}^2\right)-\left({q}^2{\sigma}_{\mathrm{s}}^2/2{k}^2{T}^2\right) \) versus 1/kT é uma linha reta, da qual podemos extrair a constante de Richardson efetiva A* de 3,8 A cm⁻²K⁻², uma ordem de magnitude menor que a constante de Richardson teórica de 40,8 A cm⁻²K⁻² com massa efetiva β-Ga₂O₃ de m* = 0,34 m₀ [36, 37]. Assim, ϕb e n dependentes de temperatura, em outras palavras, a distribuição Gaussiana das barreiras sobre SBHs pode ser usada para explicar a inhomogeneidade de barreira na interface PEDOT:PSS/β-Ga₂O₃.
Características de Fotodetector UV
Como descrito acima, o diodo Schottky híbrido β-Ga₂O₃ exibe boas características retificadoras; a razão de Ion/Ioff até 10⁶ no estado escuro a temperatura ambiente. A menor corrente escura Idark de 9,4 nA@Vbias = −4 V pode ser determinada da Fig. 4a, indicando característica de ruído menor. Enquanto sob incidência normal de comprimento de onda 254 nm com fotodensidade de 150 μW/cm², a fotocorrente Iphoto atinge 112 nA@Vbias = −4 V. Além disso, o fotodetectores mostra um fraco efeito fotovoltaico com fotocorrente de 0,45 nA a 0 V e tensão de circuito aberto (Voc) de 0,15 V, muito menor que 0,9 V na referência [38], que pode ser atribuído à diferença de densidade de portadores e a resultante variação do nível de Fermi. A Figura 4b representa o Iphoto linear versus Vbias em vários Plight. O dispositivo mostra a dependência de Iphoto no Plight e Iphoto aumenta não-linearmente com Plight, em outras palavras, em diferentes Vbias, os gráficos de Iphoto versus Plight demonstram um comportamento superlinear óbvio, como mostrado na Fig. 4c. Para elucidar o mecanismo do comportamento superlinear, a Fig. 4e apresenta o diagrama de energia do PEDOT:PSS e β-Ga₂O₃ antes do contato. A afinidade eletrônica e a banda proibida de β-Ga₂O₃ são 4,0 eV e 4,9 eV, respectivamente. O orbital molecular não ocupado mais baixo (LUMO) é 3,3 eV e o orbital molecular ocupado mais alto de PEDOT:PSS é 5,2 eV [39]. Quando entraram em contato, uma barreira Schottky foi formada. Quando o dispositivo é iluminado e o viés reverso é aplicado aos eletrodos dos diodos Schottky, os pares elétron-lacuna foto-gerados são separados rapidamente pelo campo elétrico e as lacunas derivam para o ânodo enquanto os elétrons para o cátodo, como mostrado na Fig. 4f. Pela presença de armadilhas na interface PEDOT:PSS/β-Ga₂O₃, as lacunas são aprisionadas nos estados de interface e produzem cargas positivas líquidas, reduzindo a altura de barreira Schottky efetiva, mais portadores fluindo através da junção Schottky e melhorando Iphoto. A Figura 4d apresenta as curvas de razão fotocorrente-corrente escura (PDCR) sob diferentes Plight. À medida que o viés de tensão muda de
Relação entre Fotocorrente Iphoto@150 μW/cm², corrente escura Idark e viés de tensão Vbias (a), gráficos de Iphoto versus Vbias sob diferentes Plight (b), Iphoto linear como função de Plight (c), curvas de razão fotocorrente-corrente escura (PDCR) sob diferentes Plight (d), diagrama de banda de PEDOT:PSS e β-Ga₂O₃ antes do contato (e), diagrama de banda de PEDOT:PSS e β-Ga₂O₃ sob viés reverso após contato, a condição sem tensão aplicada e a condição com viés reverso são mostradas pela linha sólida e tracejada, respectivamente (f)
0V a −1,2V, o PDCR aumenta gradualmente e depois diminui com o viés de tensão tornando-se mais negativo, o PDCR maior acima de 20 é alcançado a Vbias de −1,2 V e Plight de 150 μW/cm².
As características de fotorresposta dependentes de tempo do fotodetectores híbrido são estudadas usando luz de onda quadrada com período de 10 s sob Vbias de −1,2 V e Plight de 150 μW/cm². Após vários ciclos de iluminação, dispositivos alcançam Iphoto de estado ligado estável no dado Plight e Vbias, como representado na Fig. 5a. O tempo de subida e tempo de decaimento são 319 ms e 270 ms [40, 41], respectivamente, muito menores que os de dispositivos fabricados em filmes epitaxiais β-Ga₂O₃ ou flocos β-Ga₂O₃ [35, 42, 43] mas maiores que os dados em [31]. Pela existência de dupla heterojunção em [31], PEDOT:PSS/Ga₂O₃ junção superior e Ga₂O₃/p-Si junção inferior, os portadores foto-gerados podem ser separados mais efetivamente pelos campos elétricos embutidos duplos que a única junção PEDOT:PSS/Ga₂O₃ neste artigo. Portanto, menos portadores podem ser capturados por defeitos em [31], resultando em menor tempo de subida e decaimento. Além disso, a característica de overshooting pode ser observada nas formas das curvas de fotorresposta com cabeça em cunha no Plight menor de 150 μW/cm² que aquele ocorrido a Plight de 600 μW/cm² em [30] para a coleta efetiva de portadores foto-gerados sob viés reverso de −1,2 V em vez de 0 V.
Multi-ciclos (a) e ciclo único (b) de Iphoto dependente de tempo do fotodetectores de barreira Schottky híbrido PEDOT:PSS/β-Ga₂O₃ no Vbias = −1,2 V, o tempo de subida e decaimento são determinados como 319 ms e 270 ms, respectivamente
A Figura 6 representa as características de responsividade versus iluminação óptica λ sob Vbias de −1,2 V. A responsividade máxima Rmax de 0,62 A/W é alcançada a λ de 244 nm e a correspondente eficiência quântica externa (EQE) de 3,16 × 10²% calculada pela expressão EQE = hcRmax/(eλ), muito maior que a obtida em [30, 38] para a coleta efetiva de portadores foto-gerados, onde Rmax é a responsividade de pico, e h é a constante de Planck. e e λ são a carga eletrônica e o comprimento de onda de iluminação, respectivamente. À medida que o comprimento de onda é maior que 290 nm, a fotorresponsividade é menor que 1 × 10⁻³, ilustrando uma seletividade espectral muito melhor nos dispositivos híbridos β-Ga₂O₃. Ao mesmo tempo, a razão de rejeição de R254 nm/R400 nm é determinada como 1,26 × 10³. Comparado com fotodetectores inorgânicos Ga₂O₃ relatados [43,44,45,46,47,48,49], o dispositivo híbrido possui maior fotorresponsividade, velocidade de resposta mais rápida e maior razão de rejeição UV/visível, implicando fotodetectores solar-cegos promissores com alto desempenho.
Responsividade versus comprimentos de onda para fotodetectores híbridos PEDOT:PSS/Ga₂O₃ no Vbias =-1,2 V
Conclusões
Fabricamos diodo de barreira Schottky híbrido PEDOT:PSS/β-Ga₂O₃. A altura de barreira Schottky ϕb e fator de idealidade n são dependentes de temperatura, indicando que a altura de barreira Schottky era inhomogênea na interface PEDOT:PSS/β-Ga₂O₃. A altura de barreira média e desvio padrão podem ser avaliados como 1,57 eV e 0,212 eV, respectivamente, baseados no modelo de distribuição Gaussiana de altura de barreira. Além disso, as características de fotodetectores de barreira Schottky DUV PEDOT:PSS/β-Ga₂O₃ também foram investigadas. Responsividade maior de 0,6 A/W, razão de rejeição R254 nm/R400 nm = 1,26 × 10³, EQE de 3,16 × 10⁴% e velocidade de resposta mais rápida de menos de 320 ms são alcançados, sugerindo que os diodos de barreira Schottky híbridos podem ser usados como chaves ópticas ou fotodetectores DUV.
Disponibilidade de Dados e Materiais
Todos os dados estão disponíveis dos autores mediante solicitação razoável.
Abreviações
- AFM:
- Microscópio de força atômica
- DUV:
- Ultravioleta profundo
- EQE:
- Eficiência quântica externa
- FWHM:
- Largura total a meia altura
- HRTEM:
- Microscopia eletrônica de transmissão de alta resolução
- LUMO:
- Orbital molecular não ocupado mais baixo
- PDCR:
- Razão fotocorrente-corrente escura
- RMS:
- Desvio quadrático médio
- SBDs:
- Diodos de barreira Schottky
- TE:
- Emissão térmica
Nanomateriais
- Manufatura Híbrida: Unindo Tecnologias Aditivas e Subtrativas para o Futuro da Produção
- Aumento Sinérgico da Condutividade Elétrica em Compósitos Epóxi com Nanotubos de Carbono e Nanoplateletes de Grafite
- Camada de Transporte de Lacunas PEDOT:PSS Tratada com Metanol Impulsiona Eficiência de Célula Solar Híbrida Silício/Orgânica a 12,2%
- Células Solares de Si Cristalino com Camada Traseira de Silício Negro: Eficiência Aumentada via Engenharia de Bandgap Graduado
- Células Solares Híbridas PEDOT:PSS/n-Si de Alto Desempenho com Superfícies Texturizadas e Eletrodos de Nanofios de Prata
- Diodos Schottky de β-Ga₂O₃ de Banda Proibida Ultra-Larga: Fundamentos Materiais, Design de Dispositivos e Perspectivas para Eletrônica de Potência
- Espalhamento de Corrente Aprimorado em LEDs UV Profundo Baseados em AlGaN via Estruturas PNP-AlGaN
- Propriedades Nanomecânicas em Gradiente do Esmalte Fluorótico: Implicações para Seleção de Materiais Restauradores
- IA, Machine Learning e Deep Learning: Diferenças e Como Funcionam
- Preparando a Produção para o Futuro: FMS Impulsiona Sucesso da Manufatura Híbrida